產(chǎn)品描述:
產(chǎn)品概述
l ED2000采用全數(shù)字化電子線路設(shè)計(jì),其緊密耦合的X射線光學(xué)系統(tǒng)和Pentafet探測(cè)器專利技術(shù)實(shí)現(xiàn)了最高的計(jì)數(shù)率、最佳的分辨率和最低的檢出下限。如分析土壤中的有害重金屬元素Cd時(shí),檢出下限可達(dá)0.5ppm。
l Pentafet專利技術(shù)克服了能量色散技術(shù)中,元素分辨能力隨計(jì)數(shù)率增高而下降的缺點(diǎn),即使在較高計(jì)數(shù)情況下,仍可以得到優(yōu)良的元素分辨率。ED2000數(shù)字化電路技術(shù)提高了信號(hào)處理速度,縮短了分析時(shí)間。ED2000的最大計(jì)數(shù)率高于50,000cps;在17,000cps計(jì)數(shù)率的情況下,分辨率優(yōu)于140eV。
技術(shù)參數(shù):
ED2000X射線熒光光譜儀
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