X射線熒光光譜儀的用途

1.儀器是較新型X射線熒光光譜儀，具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點。

2.X射線熒光光譜儀能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。

3.無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。

4.薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的最大尺寸要求為直徑51mm,高40mm.