美國(guó)伊利諾伊大學(xué)開(kāi)發(fā)出可自修復(fù)電路
[ 2012/1/8 16:28:36 ]
美國(guó)伊利諾伊大學(xué)的工程師團(tuán)隊(duì)開(kāi)發(fā)出了一種自修復(fù)系統(tǒng)，可以在極短時(shí)間內(nèi)自動(dòng)恢復(fù)受損電路的導(dǎo)電性能。研究人員將直徑為10微米的微型膠囊分散在以金線構(gòu)成的電路上。當(dāng)電路受損時(shí)，微膠囊會(huì)破開(kāi)并釋放出內(nèi)含的液態(tài)金屬，這種液態(tài)金屬會(huì)填充電路中的縫隙，恢復(fù)電路導(dǎo)通。研究人員計(jì)劃將進(jìn)一步改善這一系統(tǒng)，并探索利用微膠囊控制導(dǎo)電性的其他可能。研究人員表示，這一研究可以給航天工業(yè)帶來(lái)福音，并有可能應(yīng)用在電池的自修復(fù)方面，改善電池的安全性和壽命。相關(guān)研究工作發(fā)表在Advanced Materials上。
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