產(chǎn)品簡介:
?LEPTOSKOP2042涂層測厚儀具有精準的測量技術和簡單的操作方法,是萬能的涂層測厚儀。通過解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場迅速的升級。
?LEPTOSKOP2042涂層測厚儀利用磁感應法(DIN EN ISO 2178)測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚度。
?LEPTOSKOP2042涂層測厚儀將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合,同時提供10種可供任意選擇的語言,以滿足客戶的各種需求。
?LEPTOSKOP2042涂層測厚儀是一種經(jīng)濟的產(chǎn)品,電池壽命長,可以連續(xù)工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數(shù)量,因此一些重要的參數(shù)可以被保存。
彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi),可以保護儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。
產(chǎn)品特點:
?大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
?校準選項
?出廠時已校準,立即可用
?在未知涂層上校準
?零校準
?在無涂層的基體上一點和多點校準
?在有涂層的基體上校準
?校準數(shù)據(jù)可以別單獨存儲在獨立的校準檔案中,也可以隨時調(diào)出
?可選擇的顯示模式,以最佳形式去完成測量任務
?輸入和極限監(jiān)視
?在Windows下有簡單的存儲讀數(shù)檔案管理
?可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport
?統(tǒng)計
?可統(tǒng)計評估999個讀數(shù)
?最小值、最大值、測量個數(shù)、標準偏差和極限監(jiān)視
?局部厚度和平局膜層厚度(DIN EN ISO 2808)
?在線統(tǒng)計,所有統(tǒng)計值概括
普通型 鐵基膜層測厚儀標準套 2042F 非鐵基膜層測厚儀標準套 2042NF 鐵基/非鐵基膜層測厚儀標準套 2042 數(shù)據(jù)型 鐵基 2042 Fe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 EasyExport軟件,操作手冊,質(zhì)量認證書,儀器箱 2042 EF 2042 Fe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計和資料模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件,操作手冊,質(zhì)量認證書,儀器箱 2042DF 非鐵基 2042 NFe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 EasyExport軟件,操作手冊,質(zhì)量認證書,儀器箱 2042ENF 2042 NFe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計和資料模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件,操作手冊,質(zhì)量認證書,儀器箱 2042DNF 鐵基/非鐵基 2042 Fe/NFe Set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 EasyExport軟件,操作手冊,質(zhì)量認證書,儀器箱 2042 E 2042 Fe/NFe Data Set----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計和資料模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件,操作手冊,質(zhì)量認證書,儀器箱 2042 D