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涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042可定制帶系統(tǒng)的涂層測厚

涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042 利用磁感應(yīng)法（DIN EN ISO 2178）測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。

儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時(shí)提供10種可供任意選擇的語言，以滿足客戶的各種需求。涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品，電池壽命長，可以連續(xù)工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。

德國卡爾德意志涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042特點(diǎn)概述

大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈

校準(zhǔn)選項(xiàng)

出廠時(shí)已校準(zhǔn)，立即可用

在未知涂層上校準(zhǔn)*

零校準(zhǔn)*

在無涂層的基體上一點(diǎn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)*

在有涂層的基體上校準(zhǔn)*

校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨(dú)存儲(chǔ)在獨(dú)立的校準(zhǔn)檔案中，也可以隨時(shí)調(diào)出

可選擇的顯示模式，以最佳形式去完成測量任務(wù)*

輸入和極限監(jiān)視*

在Windows下有簡單的存儲(chǔ)讀數(shù)檔案管理*

可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport

統(tǒng)計(jì)*

	可統(tǒng)計(jì)評(píng)估999個(gè)讀數(shù)
	最小值、最大值、測量個(gè)數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限監(jiān)視
	局部厚度和平局膜層厚度（DIN EN ISO 2808）
	在線統(tǒng)計(jì)，所有統(tǒng)計(jì)值概括

LEPTOSKOP 2042 帶有45°微型探頭

* 取決于配置級(jí)別

涂層測厚儀LEPTOSKOP20423種配置級(jí)別以更好的完成測量人任務(wù)

LEPTOSKOP 2042 有3種配置級(jí)別

	基本型 – 證明質(zhì)量的基本特征
	高級(jí)型 - 附加統(tǒng)計(jì)評(píng)估
	專業(yè)型 - 統(tǒng)計(jì)評(píng)估和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

如果針對(duì)新的測量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時(shí)候把儀器升級(jí)為高級(jí)型和/或?qū)I(yè)型。升級(jí)只需在現(xiàn)場輸入解鎖代碼，“統(tǒng)計(jì)”和/或“統(tǒng)計(jì)& 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)”，便可完成；而不需要把儀器反廠或重新購買新機(jī)器。這里有操作指南和制定模塊的參考說明。

舉例：儀器上的用戶界面圖像

選擇菜單項(xiàng)目（例如：語言清單）

A	語言清單
B	卷軸條作為導(dǎo)航輔助

清晰的統(tǒng)計(jì)讀數(shù)值和當(dāng)前測量值

電腦讀數(shù)也被存儲(chǔ)在目錄和文件中

多樣的探頭

多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下，更容易地測量復(fù)雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm 也是可以的。根據(jù)需求，我們也可以訂做特殊探頭。

	探頭類型	測量方法	測量范圍	訂貨號(hào)
	標(biāo)準(zhǔn)探頭Fe 0?br> 用于在寬闊的、容易測量的地方	Fe	0 - 3000 祄	2442.100
	標(biāo)準(zhǔn)探頭 NFe 0?/font>	NFe	0 - 1000 祄	2442.130
	標(biāo)準(zhǔn)探頭 NFe S 0?/font>	NFe	0 - 3750 祄	2442.140
	標(biāo)準(zhǔn)探頭 Fe S 0?br>用于測量表面有寬闊的涂層厚度	Fe	0.5 - 20 mm	2442.120
	標(biāo)準(zhǔn)探頭 Fe 90?br>用于測量難接近的部位，例如：管子的內(nèi)部	Fe	0 - 3000 祄	2442.110
	雙晶探頭用于測量表面有寬闊的涂層例如：管子的內(nèi)部涂層.	Fe	0.5 - 12.5 mm	2442.200
	微型探頭0?用于測量小尺寸和難接近的部位例如：鉆孔的底部	FeNFe	0 - 500 祄	2442.300 2442.310
	微型探頭0?用于測量小尺寸和難接近的部位例如：鉆孔的底部	FeNFe	0 - 500 祄	2442.300 2442.310
	微型探頭 45?用于測量小尺寸和難接近的部位	FeNFe	0 - 500 祄	2442.320 2442.330
	微型探頭 45?用于測量小尺寸和難接近的部位	FeNFe	0 - 500 祄	2442.320 2442.330
	微型探頭 90?用于測量小尺寸和難接近的部位例如：管子的內(nèi)壁和鉆孔	FeNFe	0 - 500 祄	2442.340 2442.350
	微型探頭 90?用于測量小尺寸和難接近的部位例如：管子的內(nèi)壁和鉆孔	FeNFe	0 - 500 祄	2442.340 2442.350
注：點(diǎn)擊單獨(dú)的探頭圖片，可以得到更多詳細(xì)信息

技術(shù)資料

	數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或　USB
	電源：電池、充電電池、USB或外接電源
	測量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)
	測量速度:　每秒測量２個(gè)數(shù)值
	存儲(chǔ): 最多 9999 個(gè)數(shù)值，140個(gè)文件
	誤差: 涂層厚度 < 100 祄: 1 % 的數(shù)值 +/- 1 祄 (校準(zhǔn)后) 涂層厚度 > 100 祄: 1..3 % 的數(shù)值 +/- 1 祄涂層厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的數(shù)值 +/- 10 祄涂層厚度　> 10000 祄: 5 % 的數(shù)值 +/- 100 祄

附件

	試塊和膜片
	探頭定位裝置　(適用于微型探頭)
	定位輔助裝置 (適用于微型探頭)
	電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對(duì)整個(gè)目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理
	電腦軟件 EasyExport 用于把單獨(dú)的杜說或全部文件傳輸?shù)?span id="op6dzlu" class=en>Windows 程序里