北京中儀提供便攜式四探針測試儀使用方法,滿足你不同地點(diǎn)的使用需求。
·該款便攜式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備
·該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,專用于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器
·儀器采用了最新電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。如有需要可加配測試臺(tái)使用
·本儀器廣泛應(yīng)用于太陽能單晶(多晶)生產(chǎn)廠家為硅材料的分選測試,半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試
電阻率 | 0.01~1999.9Ω.cm |
方塊電阻 | 0.1~19999Ω/□ |
恒流源電流量程 | 100μA、1mA兩檔,各檔電流連續(xù)可調(diào) |
數(shù)字電壓表量程及表示形式 | 000.00~199.99mV |
分辨力 | 10μV |
輸入阻抗 | >1000MΩ |
精度 | ±0.1% |
顯示 | 四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示,極性、超量程自動(dòng)顯示 |
四探針探頭基本指標(biāo) | 間距 |
針間絕緣電阻 | ≥1000MΩ |
機(jī)械游移率 | ≤0.3% |
探針 | 碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm |
探針壓力 | 5~16 牛頓(總力),四探針探頭應(yīng)用參數(shù)(見探頭附帶的合格證)模擬電阻測量相對誤差(按JJG508-87進(jìn)行) |