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產(chǎn)品描述：

      作為粒度儀的專業(yè)生產(chǎn)廠商，島津公司新推出了劃時(shí)代的單一納米顆粒測(cè)定儀器IG-1000，并在美國(guó)伊利諾斯州芝加哥市的邁考密展覽中心召開(kāi)的Pictton 2009（3月8日至3月13日）展會(huì)眾多產(chǎn)品中脫穎而出，獲得“撰稿人獎(jiǎng)”銅獎(jiǎng)。
      與以往粒度測(cè)定儀器原理不同，IG方法（Induced Grating method）是島津公司開(kāi)發(fā)的獨(dú)一無(wú)二的納米粒徑測(cè)定技術(shù)。IG-1000采用介電電泳原理，介電電泳ON時(shí),形成部分的高(低)粒子濃度；介電電泳OFF時(shí), 粒子擴(kuò)散恢復(fù)為原始狀態(tài)；由介電電泳力使粒子構(gòu)成衍射光柵，擴(kuò)散后的濃度降低導(dǎo)致衍射光強(qiáng)度降低，從衍射光強(qiáng)度的時(shí)間變化可以得到粒子的擴(kuò)散系數(shù)，進(jìn)而得到粒子的粒徑。

      IG-1000相關(guān)參數(shù)如下：

光源：半導(dǎo)體激光（波長(zhǎng)785nm）
測(cè)定原理：誘導(dǎo)衍射光柵法
測(cè)量范圍：0.5～200nm
測(cè)定體積：250~300uL
測(cè)定時(shí)間：總計(jì)30秒

與目前采用散射光的動(dòng)態(tài)光散射儀器（DLS）方法相比較, 優(yōu)勢(shì)明顯。測(cè)定范圍最低到0.5nm，在單一納米顆粒領(lǐng)域可以獲得十分良好的信噪比(S/N)，靈敏度也非常高，如圖一。

圖一 C60(OH)n的測(cè)定結(jié)果大阪大學(xué)　小久保先生提供

即便樣品中含有少量的粗大粒子時(shí)對(duì)測(cè)定也沒(méi)有影響，分布廣的樣品可以得到正確的結(jié)果，克服了以往DLS產(chǎn)品耐污染性差的缺點(diǎn)。如圖二所示。

圖二粒徑為50nm的粒子的測(cè)定結(jié)果，樣品中含有1%的1um的粒子

IG-1000不使用散射光，因此不受物理參數(shù)的限制，不要求輸入折射率因子(refractive index)作為測(cè)量條件。

列入將來(lái)JIS計(jì)劃的分布范圍10倍的氧化硅粒子樣品，在IG-1000上能夠給出很好的測(cè)定效果，中間粒徑是76nm，與SEM的結(jié)果非常一致；而該樣品如果使用DLS測(cè)定，中間粒徑測(cè)定結(jié)果為100～150nm。該結(jié)果如圖三所示，已在2008年十月份的日本粉體工學(xué)會(huì)，與同志社大學(xué)的森先生共同發(fā)表。