表面處理探頭—用于表面處理技術(shù)的氧氣測量探頭
表面熱處理工藝中,如滲碳、滲氮、探氫共滲或者噴鍍工藝中使用的表面熱處理設(shè)備,起控制參數(shù)常常憑經(jīng)驗確定。
根據(jù)以往的的實踐,進行金屬部件表面硬化處理熱處理時噴射到基材表面的材料,其數(shù)量是相當(dāng)可觀的,如果工藝參數(shù)沒有進行優(yōu)化配置,則噴射材料的質(zhì)量就達不到質(zhì)量要求,結(jié)果生產(chǎn)成本就很高,使用經(jīng)驗參數(shù)控制的生產(chǎn)工藝常常依賴于對這一技術(shù)熟練的操作工人,一旦操作工人發(fā)生更換,則這些參數(shù)又得重新確定,而且,表面處理的工藝參數(shù)還受施工設(shè)備運行的影響,并受處理工件不同材質(zhì)的制約。
因此,只有使用探測技術(shù),客觀的確定氧化、滲碳、滲氮的工作參數(shù),才有可能形成一種可以重復(fù)生產(chǎn)的表面處理技術(shù),使產(chǎn)品質(zhì)量始終符合ISO9000質(zhì)量體系認證。
使用現(xiàn)場探測器可以降低生產(chǎn)成本,因為在這種情況下只有保證產(chǎn)品最佳質(zhì)量所需要的那部分工藝氣體導(dǎo)入表面處理過程。
除此以外,探測器使用對環(huán)境保護也具有積極意義,因為有些工藝氣體(如甲烷和氨氣)對環(huán)境具有潛在的有害影響。只有使用在線探測器,才能把控制過程所需要的時間延遲降低到最小程度,另外,氣體成分也不會由于冷卻作用的影響而發(fā)生改變,而這種情況在虹吸裝置中會發(fā)生,但與虹吸裝置相反,現(xiàn)場探測器不需要維護,通過對探測器進行優(yōu)化設(shè)置后,用戶的探測系統(tǒng)便可長期使用,無需校驗。
探頭:
Q- probe: 該探測器確定氧化、滲碳、滲氮工藝中的氧化還原比,滲氮工藝中,Q-probe型探頭測量不同工作溫度是非均衡條件下在工件上的氮氣,在滲碳工藝中,Q-probe可作為碳傳感器使用,測定爐氣的氧化還原系數(shù)。
QE-probe: (化學(xué)平衡中的比例測定探測器):這種檢測器用于滲碳和碳氫共滲工藝,確定特種催化劑完全分解后的氨氣濃度,當(dāng)這種探測器和Q-probe配合使用,可確定滲氮工藝特性參數(shù)。
真空探頭: 用于真空系統(tǒng)中?。≒VD處理、等離子滲氮工藝)的氧氣濃度。
型號
Q-probe SS20Q-xxxx
QE-probe SS20QE-xxxx
真空探頭 XX22H-xxxx
性能帶保護管
帶保護管和加熱催化劑
加熱探頭 (He泄漏率低于 < 10-7 mbar/ s-1)
應(yīng)用領(lǐng)域氧化以及還原性氣體
氧化以及還原性氣體
氧化以及還原性氣體
傳感器類型密封型傳感器 (2)
密封型傳感器 (2)
密封型傳感器 (2)
工作溫度570...800 °C 氧化環(huán)境 570...1100 °C 還原氣氛中
570...800 °C 氧化環(huán)境 570...1100 °C 還原氣氛中
0...800 °C
探頭長度500...1000 mm
500...1000 mm
70...200 mm
尺寸25 mm
25 mm
10 mm
防護等級
IP 56
IP 56
IP 56
特別性能帶沖洗氣體接頭
需要校驗
型號 |
Q-probe SS20Q-xxxx |
QE-probe SS20QE-xxxx |
真空探頭XX22H-xxxx |
圖例 |
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性能 |
帶保護管 |
帶保護管和加熱催化劑 |
加熱探頭 (He泄漏率低于 < 10-7 mbar/ s-1) |
應(yīng)用領(lǐng)域 |
氧化以及還原性氣體 |
氧化以及還原性氣體 |
氧化以及還原性氣體 |
傳感器類型 |
密封型傳感器 |
密封型傳感器 (2) |
密封型傳感器 (2) |
工作溫度 |
570...800 °C 氧化環(huán)境 570...1100 °C 還原氣氛中 |
570...800°C 氧化環(huán)境570...1100 °C 還原氣氛中 |
0...800 °C |
探頭長度 |
500...1000 mm |
500...1000 mm |
70...200 mm |
尺寸 |
25 mm |
25 mm |
10 mm |
防護等級 |
IP 56 |
IP 56 |
IP 56 |
特別性能 |
帶沖洗氣體接頭 |
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需要校驗 |
注:(2) 測量氣體和參考氣體用密封陶瓷隔離
應(yīng)用:
保護和混合氣體環(huán)境中的煺火處理
滲碳
滲氮、氧化滲氮、氨氮共滲、氫氮共滲工藝
等離子滲氮
PVD處理
微波濺射工藝
壓力環(huán)境下測量氧