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技術(shù)參數(shù)

1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根據(jù)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射線熒光測試方法；
2.原始射線從上至下；
3.微聚焦X-射線管高壓設(shè)定可調(diào)節(jié)至最佳的應(yīng)用：50kV，40kV或30kV；
4.標(biāo)準(zhǔn)視準(zhǔn)器組：圓形0.1/0.2/0.3和長方形0.05X0.3mm；
5.測量箱外部尺寸：（高×寬×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大約為105kg（120lbs）；
6.帶槽箱體的內(nèi)部尺寸：（高×寬×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）帶向上回轉(zhuǎn)箱門；
7.嵌入式固定的測試件支承板，需要時(shí)可移去以適用于大件的超出尺寸的測試工件；
8.電機(jī)驅(qū)動(dòng)的144mm（5.7〞）X-射線頭部（X-射線管，比例接收器及視準(zhǔn)器）的Z軸運(yùn)行；
9.試件查看用彩色攝像機(jī)
10.測量開始/結(jié)束按鈕，X-射線頭部上/下按鈕及LED狀態(tài)指示燈與測試箱集成在一體。

主要特點(diǎn)

FISCHERSCOPE® XDLM®-C4 是一款基于Windows™ 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下。

微聚焦X-射線管以及電機(jī)帶動(dòng)的有4個(gè)不同尺寸視準(zhǔn)器組成的視準(zhǔn)器組使得XDLM®-C4成為測量大批量生產(chǎn)部件的理想測量儀器，例如螺絲，螺母和螺栓?？蛇x擇的鈷接收器有效地解決銅上鍍鎳的測量應(yīng)用問題

XDLM®的特色是獨(dú)特的距離修正測量方法。DCM方法（距離控制測量）自動(dòng)地修正在不同的測量距離上光譜強(qiáng)度的差別，簡便了測量復(fù)雜幾何外形的測試工件和在不同測量距離上的測量。

與WinFTM® V.6軟件及校樣標(biāo)準(zhǔn)塊Gold Assay結(jié)合，XDLM®作為FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分，完美地適用于快速，非破壞性和精確的測量珠寶及貴金屬中金的成分。

儀器介紹

適用于Windows®2000或選擇適用于Windows® XP的真Win32位程序帶在線幫助功能
頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的應(yīng)用
能通過“應(yīng)用工具箱”(由一個(gè)帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊組成)使應(yīng)用的校準(zhǔn)簡單化
畫中畫測試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動(dòng)焦距功能放大試件圖像；計(jì)算機(jī)生成的刻度化的瞄準(zhǔn)十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離）
圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報(bào)告中
對(duì)試件與視準(zhǔn)器之間的距離進(jìn)行視覺控制的校正（DCM方法）范圍可達(dá)80mm(3.2〞)
測量模式用于：單、雙及三層鍍層系統(tǒng)
         雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量
         雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析（兩層的厚度
         和合金成分都能被測量)
能分析多達(dá)四種金屬成分的合金，包括金的開數(shù)分析的特殊功能。對(duì)電鍍?nèi)芤旱姆治瞿芰蛇_(dá)包含一或二種陽離子的電鍍液。
可通過RS-232接口或使用網(wǎng)絡(luò)環(huán)境控制命令設(shè)定數(shù)據(jù)的輸出和輸入以實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的遠(yuǎn)程控制。
通過使用可選擇的帶合成條形碼讀入器的鍵盤實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品選擇。
可編程的應(yīng)用項(xiàng)圖標(biāo)，用于快速產(chǎn)品選擇。
完整的統(tǒng)計(jì)功能，SPC圖，標(biāo)準(zhǔn)的概率圖和矩形圖評(píng)估。
報(bào)告生成，數(shù)據(jù)輸出
語言可選擇：英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，及中文
菜單中的某些選擇項(xiàng)可授權(quán)使用